解決方案
存儲芯片測試方案

行業測試挑戰
方案概述
存儲芯片測試方案概述
針對存儲類芯片測試,加速科技推出針對大中小不同芯片容量的測試方案:ST2500E、ST2500EX和Flex10K-M。ST2500E、ST2500EX應對中小容量存儲芯片測試,可分別支持512至1024路數字通道,對于市場上EEPROM、中小容量Nor Flash及嵌入式存儲器有著良好的支持。適合的DIO通道與電源、高壓源配比,模塊化的資源,使得多site擴展簡單易行。高容量向量深度,可滿足中小容量存儲芯片的存儲功能測試。系統、各模塊間高速通信帶寬,算法硬件調度,可有效提升測試效率。
Flex10K-M系列是針對FLASH/EEPROM/SRAM等存儲類芯片測試研發的大容量高密度數字測試系統,系統可以提供多達2560數字通道,768DPS通道,支持ALPG算法,可以支持Nor Flash/Nand Flash/EEPROM/SRAM芯片測試。

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核心優勢
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