解決方案
存儲芯片測試方案
行業測試挑戰
方案概述
存儲芯片測試方案概述
針對存儲類芯片測試，加速科技推出針對大中小不同芯片容量的測試方案：ST2500E、ST2500EX和Flex10K-M。ST2500E、ST2500EX應對中小容量存儲芯片測試，可分別支持512至1024路數字通道，對于市場上EEPROM、中小容量Nor Flash及嵌入式存儲器有著良好的支持。適合的DIO通道與電源、高壓源配比，模塊化的資源，使得多site擴展簡單易行。高容量向量深度，可滿足中小容量存儲芯片的存儲功能測試。系統、各模塊間高速通信帶寬，算法硬件調度，可有效提升測試效率。
Flex10K-M系列是針對FLASH/EEPROM/SRAM等存儲類芯片測試研發的大容量高密度數字測試系統，系統可以提供多達2560數字通道，768DPS通道，支持ALPG算法，可以支持Nor Flash/Nand Flash/EEPROM/SRAM芯片測試。
方案介紹
核心優勢
CORE ADVANTAGES
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